ate(集成電路自動測試機)

ATE指的是自動測試設備（Automatic Test Equipment），它是一種用於測試集成電路（IC）的設備，具有自動化、精準性、高速性、靈活性、可重複性、多功能性和數據處理能力等特點。ATE的作用是對集成電路芯片、電子設備和系統進行測試和驗證，以確保它們的性能、功能、可靠性和穩定性符合設計要求，提高生產效率和企業的競爭力。

ATE的基本原理是使用各種測試儀器和測試程序對集成電路進行自動化測試。ATE系統由測試儀器、測試程序和控制系統組成。測試儀器包括數字信號發生器、模擬信號發生器、數字信號分析儀、模擬信號分析儀、邏輯分析儀、頻譜分析儀和電源等。測試程序是一組指令，用於控制ATE系統執行測試操作。控制系統負責整個ATE系統的控制和管理。

ATE系統使用各種信號和電壓來模擬集成電路的工作環境，並檢測IC是否滿足規格要求。ATE可以進行各種測試，如功能測試、時間延遲測試、電氣特性測試、溫度測試、可靠性測試等。ATE還可以進行快速測試，提高測試效率和降低測試成本。

簡介

在所有的電子元器件(Device)的製造工藝裏面，存在着去偽存真的需要，這種需要實際上是一個試驗的過程。為了實現這種過程，就需要各種試驗設備，這類設備就是所謂的ATE(Automatic Test Equipment)。這裡所說的電子元器件 DUT(Device Under Test)，當然包括IC類別，此外，還包括分立的元件，器件。ATE存在於前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各個環節，具體的取決於工藝(Process)設計的要求。

作用

在元器件的工藝流程中，根據工藝的需要，存在着各種需要測試的環節。目的是為了篩選殘次品，防止進入下一道的工序，減少下一道工序中的冗餘的製造費用。這些環節需要通過各種物理參數來把握，這些參數可以是現實物理世界中的光，電，波，力學等各種參量，但是，目前大多數常見的是電子信號的居多。ATE設計工程師們要考慮的最多的，還是電子部分的參數比如，時間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數。就是電子學所說的，信號處理。

功能構造

通盤而論，兩大部類，〔1〕核心測試構造：承襲於傳統的測試技術，檢測技術，自動的實施信號處理（電子信號測量）。針對不同的DUT的測試提案不同，核心測試構造也會有所不同。〔2〕計算機控制構造：處理的速度和能力，取決於當時的計算機能力。計算機技術事實上已經變成了通用技術了，對於一套ATE來說，高指標的計算機不見得是最好的計算機，滿足系統的需要，協調才是最好的標準。事實上，複雜的ATE設備的價格，相對於先進的高指標的服務器價格來說，相當於巨人跟侏儒的嬰兒的關係了。總體上來說，計算機技術的作用，控制系統的協調，控制信號的注入路徑，控制數據的採集和處理，等等。換句話說，計算機對系統的硬件，軟件的管理是雙管齊下的—既當爹，又當媽，吃喝拉撒都要管。所以，通用計算機已經不太適合了，於是，歷史上便產生了FA計算機技術。但是，這還是滿足不了，高速，大量的要求，於是，專家們乾脆打破了計算機的傳統結構，甚至，製造出了專用的CPU，專用的ChipSet。這一切不過是在反覆的印證一個簡單的道理，是生產的需要牽引着技術的進步。